Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 12-Spedizione veloce
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Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 12-Spedizione veloce

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Description

Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 12

Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1

Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri.

Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati.

L’aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature.

Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente.

Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.

Modelli di supporto

Apple iPhone 12/12mini/12Pro/12Pro Max

Specifiche

Marca: XINZHIZAO

Modello: supporta la serie iPhone 12

Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1

Materiale: lega di alluminio

Peso lordo: 500 g

Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1

Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio

Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre

Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test

Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati

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